

半导体技术的新挑战:封装与系统设置
- 期刊名字:EDN CHINA 电子设计技术
- 文件大小:
- 论文作者:GerhardMiller
- 作者单位:英飞凌科技股份公司
- 更新时间:2023-03-25
- 下载次数:次
论文简介
提高功率密度和性能,同时降低成本,从来都是功率半导体技术的前进方向。本文指出,在可预见的未来,这个趋势还将继续下去,并且新型半导体材料的发展甚至会加剧这一趋势。传统的硅材料与诸如碳化硅(SiC)和氮化镓(GaN)等新材料的一个共同发展趋势是提高电流密度,并且需要逐步实现高达200℃的更高工作温度。主要受要求高得多的负载和温度循环能力的限制,如今的封装技术尚不能处理高于200℃的温度。另一个共同发展趋势是,各种新老材料的半导体都致力于加快开关速度,以降低器件内部损耗,从而提高电流承受能力。本文还表明,朝着这个方向发展,降低开关损耗的潜力巨大(约7倍),并且阐述了在低电感连接技术方面,封装和系统设置面临的挑战。
论文截图
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