GB/T 37254-2018 高纯碳化硅 微量元素的测定 High purity silicon carbide—Determination of trace elements

本标准规定了采用电感耦合等离子体原子发射光谱（ICP-OES）法和电感耦合等离子体质谱（ICP-MS）法测定高纯碳化硅中微量元素含量的方法。
本标准适用于碳化硅质量分数含量大于或等于99.9％的高纯碳化硅材料中铝、砷、钙、铬、铜、铁、汞、钾、镁、锰、钠、镍、铅、硫、钛、锌等16种元素的测定。各元素的测定范围见表1（以质量分数计）。
 GB/T 37254-2018 高 纯 碳 化 硅 微 量 元 素 的 测 定 High purity silicon carbide-Determination of trace elements 2018-12-28发 布 2019-09-01实 施 　　　　　　　　国家市场监督管理总局任告士 、 ， ， ， ，？ ？ 令 ＼中 国 国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 仪 ”p ＼ 嘉 热 霸 GB/T 37254-2018 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 一 　 　 　 　 　 　 巨 前 本标准按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草 。 本标准由中国建筑材料联合会提出 。 本 标 准 由 全 国 工 业 陶 瓷 标 准 化 技 术 委 员 会 （ SAC/TC 194） 归 口 。 本标准起草单位：中国科学院上海硅酸盐研究所 、 宁波伏尔肯机械密封件制造有限公司 。 本 标 准 主 要