GB/T 42975-2023 半导体集成电路 驱动器测试方法

本文件规定了半导体集成电路驱动器（以下简称器件）的电特性测试方法的基本原理和测试程序。 本文件适用于74/54系列驱动器、总线驱动器、PIN开关驱动器、达林顿驱动器、时钟驱动器、LVDS驱动器、MOSFET驱动器和差分驱动器等各种半导体工艺制造的驱动器的电性能测试。 其他类别驱动器的测试参考使用。