JJF 1682-2017 光栅式测微仪校准规范 Calibration Specification for Grating Micrometers

本规范适用于0.1μm级行程为0~10mm、0.2μm级行程为0~25mm、0.5μm级行程为0~50mm、1μm级～10μm级行程为0~100mm的光栅式测微仪校准。范 JJF 1682-2017 光栅式测微仪校准规范 Calibration Specification for Grating Micrometers 2017-11-20发 布 2018-05-20实 施 栌？：J气‘国家质量监督检验检疫总局发布 膏 、 ＼ ’ ， ；慕 护 、「 ： 渺 JJF 1682-2017 光 栅 式 测 微 仪 校 准 规 范 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 ！ JJF 1682-2017z 　 Calibration Specification for 　 　 　 Grating Micrometers 归口单位：全国几何量工程参量计量技术委员会 主要起草单位：中国科学院光电技术研究所 中国测试技术研究院 参加起草单位：安徽省计量科学研究院 本规范委托全国几何量工程参量计量技术委员会负责解释 JJF 1682-