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GB/T 43228-2023 宇航用抗辐射加固集成电路单元库设计要求 正式版 GB/T 43228-2023 宇航用抗辐射加固集成电路单元库设计要求 正式版

GB/T 43228-2023 宇航用抗辐射加固集成电路单元库设计要求 正式版

  • 标准类别:[GB] 国家标准
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  • 标准编号:GB/T 43228-2023 宇航用抗辐射加固集成电路单元库设计要求 正式版
  • 标准状态:现行
  • 更新时间:2023-12-22
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标准简介

本文件规定了宇航用抗辐射加固集成电路单元库(以下简称“加固单元库”)的组成、辐射效应建模与仿真、加固单位库设计、设计套件的设计和验证、加固单元库的验证、加固单元库手册编制等要求。 本文件适用于体硅/SOI CMOS工艺的加固单元库设计,以及产品研制前对加固单元库的综合评价。 标准号:GB/T 43228-2023 标准名称:宇航用抗辐射加固集成电路单元库设计要求 英文名称:Design requirements for space radiation-hardened integrated circuit standard cell library 发布日期:2023-09-07 实施日期:2024-01-01 出版语种:中文简体 标准分类号 标准ICS号:49.140 中标分类号:V25 关联标准 替代以下标准:无 被以下标准替代:无 引用标准:GB/T 9178-1988 起草人:赵元富、王亮、岳素格、周亮、孙永姝、李同德、林建京、赵曦、王慜、刘征宇 起草单位:北京微电子技术研究所、中国航天电子技术研究院 归口单位:全国宇航技术及其应用标准化技术委员会(SAC/TC 425)

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