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GB/T 22319.6-2023 石英晶体元件参数的测量 第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量 正式版 GB/T 22319.6-2023 石英晶体元件参数的测量 第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量 正式版

GB/T 22319.6-2023 石英晶体元件参数的测量 第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量 正式版

  • 标准类别:[GB] 国家标准
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  • 标准编号:GB/T 22319.6-2023 石英晶体元件参数的测量 第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量 正式版
  • 标准状态:现行
  • 更新时间:2024-01-03
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标准简介

本文件适用于石英晶体元件激励电平相关性(DLD)的测量。本文件规定两种试验方法(A和C)和一种基准测量方法(方法B)。方法A以IEC 60444ue0115的π型网络为基础,适用于本文件所覆盖的整个频率范围。基准测量方法B依据IEC 60444ue0115或IEC 60444ue0118的π型网络或反射法为基础,适用于本文件所覆盖的整个频率范围。方法C是振荡器法,适用于固定条件下大批量基频石英晶体元件的测量。注: 本文件规定的测量方法不仅适用于AT切型,也适用于其他晶体切型和振动模式,如双转角切型和振动模式(ITSC)和音叉晶体元件(通过使用高阻抗测试夹具)。 标准号:GB/T 22319.6-2023 标准名称:石英晶体元件参数的测量第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量 英文名称:Measurement of quartz crystal unit parameters—Part 6:Measurement of drive level dependence (DLD) 发布日期:2023-09-07 实施日期:2024-01-01 引用标准:IEC 60444-5 IEC 60444-8 采用标准:IEC 60444-6:2021《石英晶体元件参数的测量第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量》 IDT 等同采用 起草人:王国军、宫桂英、毛晶 起草单位:郑州原创电子科技有限公司、北京晨晶电子有限公司、武汉海创电子股份有限公司 归口单位:全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会(SAC/TC 182)

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