SY/T 7410.2-2020 岩石三维孔隙结构测定方法 第2部分：聚焦离子束切片法 3D pore structure characterization of rocks- Part 2: FIB-SEM method

SY/T7410的本部分规定了聚焦离子束切片技术测定岩石三维孔隙结构的方法及质量要求。
本部分适用于岩石样品的微一纳米级孔隙结构分析。Y/T 7410.2-2020 岩石三维孔隙结构测定方法 第2部分：聚焦离子束切片法 3D pore structure characterization of rocks- 　　　　　　Part 2: FIB-SEM method 2020-10-23发 布 2021-02-01实 施 国家能源局发布 SY/T 7410.2-2020 目 次 刖 青 ？？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ m 1范 围 ？？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ 1 2规 范 性 引 用 文 件 ？？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ 1